Микроскоп металлографический LEVENHUK MM500LED 82232
Артикул: 82232
139 990 руб.
Нет в наличии
Доставка вНовосибирск
Курьером (3-7 рабочих дней)0 руб.
Почтой России (5-10 рабочих дней)0 руб.
Самовывоз из ПВЗ (3-7 рабочих дней)0 руб.
ХАРАКТЕРИСТИКИ
Тип насадки
- тринокулярная
Увеличение, крат
- 50 — 500
Окуляры
- 10x/20 мм (2 шт.)
Объективы
- планахроматические, длиннофокусные, скорректированные на «бесконечность»: LMPlan 5х/0,15 WD 12 мм, LMPlan 10х/0,3 WD 16 мм, LMPlan 20х/0.4 WD 12 мм, LMPlan 50х/0.55 WD 9,15 мм; парфокальная высота 45 мм
Фокусировка
- коаксиальная, грубая (23 мм) и точная (2 мкм); механизм регулировки жесткости грубой фокусировки
Межзрачковое расстояние, мм
- 54 — 75
Подсветка
Источник питания
- сеть переменного тока
Назначение
Уровень пользователя
- для опытных, для профессионалов
Метод исследования
- светлое поле
Уровень сложности сборки и настройки
- сложно
Дополнительно
- съемный поляризатор
Чехол/сумка в комплекте
- чехол пылезащитный
Насадка
- Зидентопф, разделение светового потока 50/50, диоптрийная настройка на левом тубусе ±5 диоптрий
Угол наклона окулярной насадки
- 30°
Револьверное устройство
- на 4 объектива
Предметный столик, мм
- 210x140 мм, двухкоординатный механический, со стеклянной прямоугольной вставкой
Диапазон перемещения предметного столика, мм
- 75/50
Конденсор
- Аббе N.A. 1,25, с регулируемой апертурной диафрагмой; тип крепления «под винт»
Диафрагма
- встроенная полевая диафрагма, апертурная диафрагма
Регулировка яркости
- есть
Тип лампы подсветки
- 3 Вт (проходящий свет), 5 Вт (отраженный свет)
Исследование
- Для исследований методом светлого поля
Насадки
- Монокулярные
Модель
- 500
Особенности
- С антигрибковым покрытием
ОПИСАНИЕ
Металлографический микроскоп Levenhuk MM500LED предназначен для визуального наблюдения, контроля качества и исследования микроструктуры металлов, сплавов и других непрозрачных объектов в отраженном свете при прямом освещении в светлом поле и в поляризованном свете. Микроскоп предусматривает работу также в проходящем свете в светлом поле для исследования полупрозрачных объектов.
